基础练习 芯片测试  
时间限制：1.0s   内存限制：512.0MB
提交此题   锦囊1   锦囊2
锦囊1
找出统计规律。
锦囊2
每列求和，总数大于一半为真，少于一半为假。
问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

注意题干 好的比坏的多！！！

#include<iostream>
#include<cstdio>
using namespace std;
int main() 
{
	int n, i, j, count;	
	int a[25][25];	
	scanf("%d", &n);	
	for (i = 0; i<n; i++) 
	{
		for (j = 0; j<n; j++)
			scanf("%d", &a[i][j]);
	}	
	for (j = 0; j<n; j++)
	{
		count = 0;	
		for (i = 0; i<n; i++)
		{
			count += a[i][j];
			//统计每一列的测试结果，即一个芯片经过所有芯片的测试，得到的结果统计 
		}
		if (count>n / 2) 
		{ 
			printf("%d ", j + 1); }
	}	
	return 0;
}